來源：學術之家整理 2025-03-18 15:38:43
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》中文名稱：《電子測試理論與應用雜志》，創刊于1990年，由Springer US出版商出版，出版周期Bimonthly。
《電子測試：理論與應用雜志》是傳播電子測試領域研究和應用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應用雜志》上發表的論文經過同行評審，以確保原創性、及時性和相關性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業人員。雖然它強調發表珍貴的未發表材料，但需要更廣泛曝光的優秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發表。 《電子測試：理論與應用雜志》還尋求清晰的調查和評論文章，以促進對最新技術的更好理解。
《電子測試：理論與應用雜志》的報道包括但不限于以下主題：
VLSI 設備印刷電路板和電子系統的測試；
模擬和數字電子電路的測試；
微處理器、存儲器和信號處理設備的測試；
故障建模；
測試生成；
故障模擬；
可測試性分析；
可測試性設計；
可測試性綜合；
內置自測試；
測試規范；
容錯；
形式驗證硬件；
驗證模擬；
設計調試；
測試和診斷的人工智能方法和專家系統；
自動測試設備（ATE）；
測試夾具；
電子束測試系統；
測試編程；
測試數據分析；
測試經濟性；
質量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級集成器件測試；
可靠系統測試；
制造良率和良率改進設計；
故障模式分析和工藝改進
旨在及時、準確、全面地報道國內外ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。
| 文章引用名稱 | 引用次數 |
| Machine Learning for Hardwar... | 10 |
| Security Analysis of the Eff... | 6 |
| Single Event Transient Propa... | 5 |
| Test and Reliability in Appr... | 5 |
| An Extensible Code for Corre... | 4 |
| Impact of Aging on the Relia... | 3 |
| Hardware Trojan Detection Us... | 3 |
| Test Generation for Bridging... | 3 |
| A Low-Cost Test Solution for... | 3 |
| The Fundamental Primitives w... | 3 |
| 被引用期刊名稱 | 數量 |
| J ELECTRON TEST | 30 |
| IEEE ACCESS | 21 |
| IEEE T COMPUT AID D | 16 |
| ANALOG INTEGR CIRC S | 11 |
| IEEE T VLSI SYST | 10 |
| IET COMPUT DIGIT TEC | 9 |
| MICROELECTRON J | 9 |
| SENSORS-BASEL | 9 |
| MICROELECTRON RELIAB | 8 |
| INTEGRATION | 7 |
| 引用期刊名稱 | 數量 |
| IEEE T COMPUT AID D | 62 |
| IEEE T VLSI SYST | 58 |
| IEEE T COMPUT | 35 |
| IEEE T NUCL SCI | 34 |
| J ELECTRON TEST | 30 |
| IEEE DES TEST | 29 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 29 |
| IEEE T MICROW THEORY | 21 |
| MICROELECTRON RELIAB | 19 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 15 |
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