來源：學術之家整理 2025-03-18 15:38:43
1.Web of Science平臺查詢：使用瀏覽器打開Web of Science的官方網站。請注意，該網站可能需要注冊登錄才能使用。在搜索框中輸入想要查詢的期刊名稱，進行搜索。在搜索結果中找到對應的期刊，點擊進入期刊詳情頁面，可以找到期刊的影響因子以及分區情況。Web of Science通常提供JCR分區信息，包括Q1、Q2、Q3、Q4四個分區。
2.中科院文獻情報中心查詢：使用瀏覽器打開中科院文獻情報中心的官方網站，或進入其期刊分區查詢頁面，在搜索結果中找到對應的期刊，查看其分區情況。中科院文獻情報中心的分區主要是根據期刊超越指數來劃分，與JCR分區有所不同，但同樣具有參考價值。
3.聯系期刊編輯部：如果對某個期刊的分區情況有疑問，可以直接聯系雜志社或咨詢在線客服。
需要注意的是，如果目標期刊未被SCI收錄，則無法查詢到JCR分區信息；部分新興期刊或非英文期刊可能不在JCR數據庫中。在選擇期刊時，除了考慮分區情況外，還需要綜合考慮期刊的影響力、發表難度、研究領域等因素。
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》是一本專注于ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的English學術期刊，創刊于1990年，由Springer US出版商出版，出版周期Bimonthly。該刊發文范圍涵蓋ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC等領域，旨在及時、準確、全面地報道國內外ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工作者在該領域的科學研究等工作中取得的經驗、科研成果、技術革新、學術動態等。
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》中文名稱：《電子測試理論與應用雜志》，ISSN號為0923-8174，E-ISSN號為1573-0727。Bimonthly出版一期特刊，專注于工程：電子與電氣領域的關鍵概念，提供最新的研究概述。
《電子測試：理論與應用雜志》是傳播電子測試領域研究和應用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應用雜志》上發表的論文經過同行評審，以確保原創性、及時性和相關性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業人員。雖然它強調發表珍貴的未發表材料，但需要更廣泛曝光的優秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發表。 《電子測試：理論與應用雜志》還尋求清晰的調查和評論文章，以促進對最新技術的更好理解。
《電子測試：理論與應用雜志》的報道包括但不限于以下主題：
VLSI 設備印刷電路板和電子系統的測試；
模擬和數字電子電路的測試；
微處理器、存儲器和信號處理設備的測試；
故障建模；
測試生成；
故障模擬；
可測試性分析；
可測試性設計；
可測試性綜合；
內置自測試；
測試規范；
容錯；
形式驗證硬件；
驗證模擬；
設計調試；
測試和診斷的人工智能方法和專家系統；
自動測試設備（ATE）；
測試夾具；
電子束測試系統；
測試編程；
測試數據分析；
測試經濟性；
質量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級集成器件測試；
可靠系統測試；
制造良率和良率改進設計；
故障模式分析和工藝改進
該刊已被SCIE數據庫收錄，顯示了其學術影響力和認可度。此外，該期刊在中科院最新升級版分區表中，被歸類為工程技術大類4區，ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣小類4區，進一步證明了其在學術界的地位。
從影響因子來看，《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的影響因子為：1.1 ，這表明該期刊所發表的論文在學術界具有廣泛的影響力和引用率。該期刊的CiteScore為2，SJR為0.271，SNIP為0.518，顯示出其在國際學術界的重要影響力。
近年中科院分區趨勢圖
近年IF值(影響因子)趨勢圖
影響因子：是美國科學信息研究所(ISI)的期刊引證報告(JCR)中的一項數據。指的是某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率，是衡量學術期刊影響力的一個重要指標。自1975年以來，每年定期發布于“期刊引證報告”(JCR)。
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