未查詢到審稿周期相關數據，可能是數據未更新。 建議聯系雜志社或咨詢在線客服獲取準確信息。

《Ieee Design & Test》雜志簡介

《Ieee Design & Test》雜志是一本由IEEE Computer Society出版的國際知名學術期刊，創刊于2013年，專注于COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的研究。該期刊以發表簡短、易懂的綜述文章著稱，旨在為讀者提供關于計算機：硬件最新關鍵主題的深入解讀。

出版地區：UNITED STATES

出版周期：6 issues/year

出版語言：English

ISSN：2168-2356

E-ISSN：2168-2364

是否OA開放訪問：未開放

研究方向：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC

影響因子：1.9

年發文量：59

在學術影響力方面，《Ieee Design & Test》雜志在中科院分區表中，大類學科工程技術為4區，小類學科COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機：硬件為4區。根據JCR分區，該雜志位于Q3區，表明其在全球范圍內具有較高的學術影響力。

審稿周期可能受以下因素影響：

（1）稿件主題和復雜性：涉及新興領域或復雜主題的稿件可能需要更長的審稿時間。
（2）編輯部工作量：如果編輯部收到的稿件較多，可能會導致審稿周期延長。
（3）審稿人反饋速度：審稿人的回復速度會影響整體周期。
（4）投稿時間：期刊可能在某些時期收到很多投稿，導致審稿周期延長。
（5）修改時間：如果稿件需要修改，作者修改的時間也會影響最終周期。

如何縮短審稿周期：

1.確保稿件質量：提交前仔細檢查，符合期刊的定位和格式要求，審稿周期可能會相對較短。

2.是否約稿：該雜志的部分稿件為約稿，約稿通常會優先處理，因此審稿周期可能會更短。

3.及時回復審稿意見：收到審稿意見后盡快修改并提交。

聲明：該作品系作者結合互聯網公開知識整合。如有錯漏請聯系我們，我們將及時更正。