來源：學術之家整理 2025-03-18 15:38:23
《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志是一本專注于ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(工程：電子與電氣)領域的English學術期刊，出版周期Quarterly，平均審稿速度：預計 較慢,6-12周 ，以發表高質量的綜述文章為主，旨在為讀者提供該領域的最新研究進展和核心概念。
《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志基本信息：
在中科院最新升級版分區表中，該刊分區信息為大類學科工程技術3區，在中科院最新升級版分區表中影響因子為2.5 。
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 3區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 | 否 | 否 |
中科院分區：中科院分區是SCI期刊分區的一種，是由中國科學院國家科學圖書館制定出來的分區。主要有兩個版本，即基礎版和升級版。2019年中國科學院文獻情報中心期刊分區表推出了升級版，實現了基礎版和升級版的并存過渡；升級版是對基礎版的延續和改進，將期刊由基礎版的13個學科擴展至18個，科研評價將更加明確。
近年IF值(影響因子)趨勢圖
影響因子：是美國科學信息研究所(ISI)的期刊引證報告(JCR)中的一項數據。指的是某一期刊的文章在特定年份或時期被引用的頻率，是衡量學術期刊影響力的一個重要指標。自1975年以來，每年定期發布于“期刊引證報告”(JCR)。
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