來源：學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:36:27
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志簡(jiǎn)介
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的國(guó)際知名學(xué)術(shù)期刊，創(chuàng)刊于1952年，專注于工程技術(shù)-工程：電子與電氣領(lǐng)域的研究。該期刊以發(fā)表簡(jiǎn)短、易懂的綜述文章著稱，旨在為讀者提供關(guān)于工程：電子與電氣最新關(guān)鍵主題的深入解讀。
出版地區(qū)：UNITED STATES
出版周期：Bimonthly
出版語言：English
ISSN：0018-9456
E-ISSN：1557-9662
是否OA開放訪問：未開放
研究方向：工程技術(shù)-工程：電子與電氣
影響因子：5.6
年發(fā)文量：2247
在學(xué)術(shù)影響力方面，《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志在中科院分區(qū)表中，大類學(xué)科工程技術(shù)為2區(qū)，小類學(xué)科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣為2區(qū)。根據(jù)JCR分區(qū)，該雜志位于Q1區(qū)，表明其在全球范圍內(nèi)具有較高的學(xué)術(shù)影響力。
審稿周期可能受以下因素影響：
（1）稿件主題和復(fù)雜性：涉及新興領(lǐng)域或復(fù)雜主題的稿件可能需要更長(zhǎng)的審稿時(shí)間。
（2）編輯部工作量：如果編輯部收到的稿件較多，可能會(huì)導(dǎo)致審稿周期延長(zhǎng)。
（3）審稿人反饋速度：審稿人的回復(fù)速度會(huì)影響整體周期。
（4）投稿時(shí)間：期刊可能在某些時(shí)期收到很多投稿，導(dǎo)致審稿周期延長(zhǎng)。
（5）修改時(shí)間：如果稿件需要修改，作者修改的時(shí)間也會(huì)影響最終周期。
如何縮短審稿周期：
1.確保稿件質(zhì)量：提交前仔細(xì)檢查，符合期刊的定位和格式要求，審稿周期可能會(huì)相對(duì)較短。
2.是否約稿：該雜志的部分稿件為約稿，約稿通常會(huì)優(yōu)先處理，因此審稿周期可能會(huì)更短。
3.及時(shí)回復(fù)審稿意見：收到審稿意見后盡快修改并提交。
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